ISO 25178

ISO 25178 Yüzey Dokusu Ölçüm Yöntemi
ISO 25178 standardı, üç boyutlu yüzey dokusu karakterizasyonu için uluslararası kabul görmüş ölçüm metodolojisidir. Bu standart, areal (alan tabanlı) yüzey parametrelerinin tanımlanması ve hesaplanması için kapsamlı bir çerçeve sunar.
Teknik Özellikler:

Üç boyutlu yüzey topografyası analizi
Areal yüzey parametrelerinin standardize edilmiş hesaplaması
Yükseklik, hibrit, fonksiyonel ve özellik parametrelerini içerir
Filtreleme ve veri işleme prosedürlerini tanımlar
Ölçüm belirsizliği değerlendirme yöntemlerini kapsar

Uygulama Alanları:

Makine imalat sektörü
Otomotiv endüstrisi
Havacılık ve uzay teknolojileri
Medikal cihaz üretimi
Optik ve elektronik komponentler
Kalite kontrol laboratuvarları

Ölçüm Teknolojileri:

Optik interferometri
Konfokal mikroskopi
Beyaz ışık interferometresi
Atomik kuvvet mikroskobu (AFM)
Taramalı prob mikroskobu

Standart Bölümleri:

ISO 25178-1: Genel terimler ve tanımlar
ISO 25178-2: Terimler, tanımlar ve yüzey dokusu parametreleri
ISO 25178-3: Spesifikasyon operatörleri
ISO 25178-6: Nominal özelliklerin sınıflandırılması
ISO 25178-70: Materyal ölçüleri (yazılım ölçüm standartları)

Bu metodoloji, yüzey kalitesi değerlendirmesi ve üretim süreç kontrolü için objektif ve tekrarlanabilir sonuçlar sağlar.
JG8FHu